Aiding fault diagnosis under sympton masking in dynamic systems /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Kim, Huhn
Otros Autores: Yoon, Wan Chul, Choi, Sangsup
Formato: Artículo
Lenguaje:Espa�ol
Materias:
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

MARC

LEADER 00000nab#a22000007a#4500
001 arbauad041971
003 AR-BaUAD
005 20250711113256.0
008 991207|||||||||###||||||b###|0###a|spa||
040 |a AR-BaUAD  |c AR-BaUAD  |b spa 
100 |a Kim, Huhn 
245 |a Aiding fault diagnosis under sympton masking in dynamic systems /  |c Huhn Kim; Wan Chul Yoon; Sangsup Choi;  
300 0 |b il., gráf. 
653 |a ENERGIA NUCLEAR 
653 |a CONTROL 
653 |a PROCESOS TECNICOS 
653 |a SISTEMAS 
653 |a ERGONOMIA 
700 1 |a Yoon, Wan Chul 
700 1 |a Choi, Sangsup 
773 0 |t ERGONOMICS  |g no. 11 [nov. 1999], p. 1472-1481 
942 |c ARTI 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |7 0  |9 86890  |a AR-BAuAD  |b AR-BAuAD  |d 2025-07-11  |l 0  |p AAQA041971  |r 2025-07-11 11:32:56  |w 2025-07-11  |y ARTI 
990 |a CS199  |b TD 
998 |a AAQ  |b BIBUN76 
999 |c 66563  |d 66563